晶体是一个重要的被动器件，如果晶体的频率不稳，甚至不起振，就会导致设备屏幕闪烁，时间不准确，通讯失败等情况。
负载电容是影响晶体频率的重要参数，负载电容也叫CL，当CL满足一定条件，才会输出目标频率。比如参数为12.5pF，32.768kHz，±20ppm的晶体。指的是当CL=12.5pF时，就是外围所有电容的集合为12.5pF时，输出的频率才是32.768 kHz ，±20ppm。
因此晶体的选型匹配十分重要，爱普生为客户提供晶体回路匹配测试，简称CE测试。客户提供原理图和电路板，我们进行CL的调整，评估输出频率，驱动功率，起振能力，使其工作在一个稳定的、适合的状态。正所谓：
时钟偏差问题多，
工程采购不背锅。
罪魁祸首是晶体？
CE测试好处多。
通过上面的视频，大家对CE测试一定有了更深入的了解。如需了解CE测试相关流程可通过邮件咨询：ecc-electronicdevice@ecc.epson.com.cn，同时自2024年12月起，部分爱普生的授权代理商也会开始提供面向社会的CE测试，届时将有更多客户可以享受这项服务。
爱普生还上线了选型与购买系统“爱普生电子元器件易选中心” （爱普生电子元器件易选中心_电子元器件 – 爱普生中国 (epson.com.cn)，对不同人群提供了多种选型指南与购买方式，可谓“一键选型，送货到家。快来尝试一下吧！
（*客户选型后由爱普生授权第三方提供销售与配送服务，爱普生不对第三方行为负责。）
